RSTN20L50SM 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
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■ 器件概述与封装
瑞斯特 RSTN20L50SM 是一款双P沟道增强型功率MOSFET(内部集成两个独立P沟道),采用紧凑的PDFN3.3x3.3-8L封装,额定漏源电压 VDS = -20V,单通道连续漏极电流 ID = -50A(TC=25℃),脉冲电流 IDM = -152A。导通电阻典型值极低,为 10mΩ(VGS=-4.5V, ID=-15A)、14mΩ(VGS=-2.5V, ID=-8A)和23mΩ(VGS=-1.8V, ID=-4A),支持1.8V低压驱动。器件经过100% UIS和Rg测试,内置ESD保护,可靠性高,符合RoHS且满足MSL1等级。PDFN3.3x3.3封装具有低寄生电感和优异散热性能,适合便携设备中的负载开关应用。
■ 关键电气参数
RSTN20L50SM 的栅极阈值电压典型值约 -0.7V(范围 -0.5~-1.0V),兼容1.8V/2.5V逻辑驱动。动态参数方面,输入电容典型值约1630pF(VDS=-10V),输出电容约300pF,反向传输电容约230pF,有利于降低开关损耗。栅极电荷 Qg 典型值约18nC(VGS=-4.5V, ID=-15A),其中栅源电荷约2.6nC,栅漏电荷约5.9nC,开关速度快。开关时间(VDD=-10V, ID=-1A)显示开通延迟约9ns,上升约13ns,关断延迟约26ns,下降约160ns。体二极管反向恢复时间约16ns,恢复电荷约6nC,适合中高频开关应用。
■ 热管理与可靠性设计
RSTN20L50SM 在 TC=25℃ 时单路最大耗散功率为 29.7W,TC=100℃ 时降额至11.9W;结到壳热阻 RθJC = 4.2℃/W,结到环境热阻(稳态)RθJA = 60℃/W(1in²铜箔)。雪崩耐受能力为单脉冲雪崩电流 IAS = -9A,雪崩能量 EAS = 20.25mJ(L=0.5mH),足以应对小功率感性负载瞬态。建议在PCB布局中为PDFN封装提供足够铜箔和过孔,确保双通道同时工作时的热管理。
■ 典型应用场景
RSTN20L50SM 凭借双P沟道集成和低压驱动能力,广泛适用于:
便携设备负载开关:智能手机、平板电脑中的电源路径切换。
电池保护:单节/双节锂电保护电路中的充放电控制。
电源多路复用:双电源输入自动切换。
低压系统电源管理:笔记本、可穿戴设备中的功率分配。
瑞斯特 RSTN20L50SM 为低压双通道开关应用提供了高集成度、低导通电阻的解决方案。