RST6602BSM 采用高可靠性材料与成熟制程工艺设计,电气性能稳定、环境适应性强, 符合 ROHS、REACH 等欧盟环保指令要求,广泛应用于工业控制、电源管理、消费电子及智能设备领域。 产品一致性高、供货稳定,适用于对品质与可靠性要求严格的应用场景。
官方品牌 · 原厂渠道
RST6602BSM 是瑞斯特(RST)推出的双路增强型功率MOSFET,采用SOT23-6L小型封装,内部集成一颗30V N沟道MOSFET和一颗-30V P沟道MOSFET,为笔记本计算机、便携设备及电池供电系统中的负载开关和电源路径管理提供高度集成的解决方案。其中N沟道器件:漏源电压 VDSS = 30V,连续漏极电流 4.9A (TA = 25℃)(70℃ 时 3.9A),脉冲电流 19A;在 VGS = 10V 时导通电阻典型值仅 32mΩ(最大36mΩ),VGS = 4.5V 时典型值 44mΩ(最大53mΩ)。P沟道器件:漏源电压 VDSS = -30V,连续漏极电流 -3A (TA = 25℃)(70℃ 时 -2.4A),脉冲电流 -12A;在 VGS = -10V 时导通电阻典型值 75mΩ(最大100mΩ),VGS = -4.5V 时典型值 110mΩ(最大140mΩ)。两者均通过100% UIS(非钳位电感开关)测试及栅极电阻测试,确保在感性负载关断时的可靠性。器件符合RoHS标准,提供绿色封装。
静态与热特性方面,N沟道栅极阈值电压典型值 VGS(th) = 1.5V(范围1.0~2.5V),P沟道典型值 -1.5V(范围-1.0~-2.5V),兼容3.3V/5V逻辑驱动。零栅压漏电流在 VDS = 24V 时N/P沟道均小于1μA(85℃时30μA),静态功耗极低。体二极管特性:N沟道正向压降 VSD = 0.75V(IS = 1A),反向恢复时间 trr = 9.2ns,反向恢复电荷 Qrr = 4.3nC;P沟道 VSD = -0.75V(IS = -1A),trr = 19ns,Qrr = 14nC,快速恢复特性降低死区损耗。热设计:双路封装,单路最大功率耗散 PD = 1.4W (TA = 25℃),70℃ 环境下降额为 0.9W;结到环境热阻短时(≤10s)90℃/W,稳态 125℃/W(基于1in² FR-4铜箔)。设计中需注意PCB散热布局,确保结温不超过150℃。
动态开关性能方面,RST6602BSM具有低栅极电荷与电容,适合中高频开关应用。N沟道:输入电容 Ciss = 215pF,输出电容 Coss = 37pF,反向传输电容 Crss = 28pF(测试条件 VDS = 15V,频率1MHz);栅极电荷:VGS = 10V 时 Qg = 3nC,Qgs = 1.1nC,Qgd = 1.5nC。P沟道:Ciss = 229pF,Coss = 42pF,Crss = 33pF;VGS = -10V 时 Qg = 6.5nC,Qgs = 1.1nC,Qgd = 1.1nC。低 Qg 与低 Qgd 显著降低开关损耗,支持数百kHz至MHz级开关频率。开关时间:N沟道开启延迟 td(on) = 5.3ns,上升时间 tr = 11ns,关断延迟 td(off) = 12ns,下降时间 tf = 2.6ns;P沟道分别为 7.2ns、9.3ns、15.4ns、3.6ns。出色的开关响应使器件适合高频DC-DC转换器和便携设备中的快速负载切换。
基于双路互补特性,RST6602BSM 的理想应用场景包括便携设备中的电源路径管理(如电池与适配器切换)、负载开关(高侧P沟道配合低侧N沟道)、以及小功率半桥驱动(如直流有刷电机、微型振动电机)。在笔记本计算机、平板电脑、移动电源及可穿戴设备中,单个SOT23-6L封装可同时完成高侧开关(P沟道)和低侧开关(N沟道)功能,显著节省PCB面积并降低BOM成本。典型应用涵盖:电池保护电路中的充放电路径切换、USB电源输出控制、以及IoT节点中的电源门控。此外,器件具备较高的雪崩耐量(UIS 100% tested),可安全驱动扬声器、电磁阀等感性负载。SOT23-6L封装与业界标准兼容,便于在超紧凑型设计中实现高集成度。总而言之,RST6602BSM为工程师提供了一款高度集成、性能均衡的双路MOSFET,适合高效率、小尺寸且需要正负电压切换的便携式功率系统。